2-D simulations of trap-related drain-current transients in GaAs MESFETs and requirements for the substrate in MESFET-ICs

K.Horio K.Horio, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)1-17
ジャーナルReport of Research Laboratory of Engineering
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出版ステータスPublished - 1996 3月 1

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