An approach for measurements of optical constants for molten Sb2Te3 by spectroscopic ellipsometer

Masashi Kuwahara, Toshio Fukaya, Rie Endo, Masahiro Susa, Kouichi Tsutsumi, Michio Suzuki, Fukuyoshi Morikasa, Tomoyoshi Endo, Toshiyasu Tadokoro

研究成果: Conference contribution

抄録

We have succeeded in measuring optical constants of molten Sb2Te3 wavelength range from 350 to 1000 nm using a novel system consisting of a spectroscopic ellipsometer and an infrared heating system.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルJoint International Symposium on Optical Memory and Optical Data Storage, ISOM_ODS 2011
出版社Optical Society of America (OSA)
ISBN(印刷版)9781557529152
DOI
出版ステータスPublished - 2011
外部発表はい
イベントJoint International Symposium on Optical Memory and Optical Data Storage, ISOM_ODS 2011 - Kauai, HI, United States
継続期間: 2011 7月 172011 7月 20

出版物シリーズ

名前Optics InfoBase Conference Papers
ISSN(電子版)2162-2701

Conference

ConferenceJoint International Symposium on Optical Memory and Optical Data Storage, ISOM_ODS 2011
国/地域United States
CityKauai, HI
Period11/7/1711/7/20

ASJC Scopus subject areas

  • 器械工学
  • 原子分子物理学および光学

フィンガープリント

「An approach for measurements of optical constants for molten Sb2Te3 by spectroscopic ellipsometer」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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