| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 277-279 |
| ジャーナル | IEEE Electron Device Lett. |
| 巻 | 16 |
| 出版ステータス | Published - 1995 6月 1 |
Analysis of Kink-Related Backgating Effect in GaAs NESFET
K.Horio K.Horio, K.Usami K.Usami, Kazushige Horio
研究成果: Article › 査読
2
被引用数
(Scopus)