| 本文言語 | English |
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| ジャーナル | Proceedings of 2012 International Workshop on Nitride Semiconductors, Sapporo, Japan |
| 出版ステータス | Published - 2012 10月 15 |
Analysis of lags and current collapse in source-field-plate AlGaN/GaN HEMTs
H. Hanawa, H. Onodera, K. Horio
研究成果: Article › 査読