Analysis of substrate deep-trap effects on the turn-on characteristics in GaAs MESFETs

K. Horio, A. Wakabayashi, S. Otsuka, T. Yamada

研究成果: Paper査読

フィンガープリント

「Analysis of substrate deep-trap effects on the turn-on characteristics in GaAs MESFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science