Atomically resolved scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope

Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D'Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo

研究成果: Conference article査読

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本文言語English
ページ(範囲)376-377
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
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DOI
出版ステータスPublished - 2014 8月 1
イベントMicroscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, United States
継続期間: 2014 8月 32014 8月 7

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  • 器械工学

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