本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 54 |
ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 2004 6月 1 |
Fabrication and characterization of fine focused electron with scanning transmission electron microscopy
K. Furuya, K. Mitsuishi, M. Shimojo [Unknown], M. Tanaka, Masayuki Shimojo
研究成果: Article › 査読