本文言語 | English |
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ページ(範囲) | We-P31 |
ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 1996 3月 1 |
Highly c-axis aligned GaN thin film grown on Si using GaP intermediate layer by metalorganic chemical vapor deposition
H. Ishikawa, T. Soga, T. Nagatomo, T. Jimbo, M. Umeno
研究成果: Article › 査読