本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 809-811 |
ジャーナル | Default journal |
巻 | 73 |
出版ステータス | Published - 1998 8月 1 |
Investigations of SiO2/n-GaN and Si3N4/n-GaN insulator-semiconductor interfaces with low interface state density
S. Arulkumaran, T. Egawa, H. Ishikawa, T. Jimbo, M. Umeno
研究成果: Article › 査読
193
被引用数
(Scopus)