本文言語 | English |
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ジャーナル | American Vacuum Society |
出版ステータス | Published - 1999 10月 1 |
Microscopy of Si(001) surface defects produced by keV He ion irradiation at low temperatures
K.Kyuno K.Kyuno, D.G.Cahill D.G.Cahill, R.S.Averback R.S.Averback, J.Tarus J.Tarus, K.Nordlund K.Nordlund, Kentaro Kyuno
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