| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 265-267 |
| ジャーナル | Japan IEMT |
| 出版ステータス | Published - 1992 10月 1 |
Open/Short Testing of Thin Film Multilayer Substrates,
Y.Iseki Y.Iseki, S.kimijima S.kimijima, T.Sudo T.Sudo, Toshio Sudo
研究成果: Article › 査読
Y.Iseki Y.Iseki, S.kimijima S.kimijima, T.Sudo T.Sudo, Toshio Sudo
研究成果: Article › 査読
| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 265-267 |
| ジャーナル | Japan IEMT |
| 出版ステータス | Published - 1992 10月 1 |