| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 223-227 |
| ジャーナル | J. Comp. Electron |
| 巻 | Vol.5 |
| 出版ステータス | Published - 2006 6月 1 |
Simulation of slow current transients and current collapse in GaN FETs
H. Takayanagi, H. Nakano, K. Yonemoto, K. Horio
研究成果: Article › 査読
H. Takayanagi, H. Nakano, K. Yonemoto, K. Horio
研究成果: Article › 査読
| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 223-227 |
| ジャーナル | J. Comp. Electron |
| 巻 | Vol.5 |
| 出版ステータス | Published - 2006 6月 1 |