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Structural and electrical properties of HfLaO
x
films for an amorphous high-k gate insulator
Y. Yamamoto, K. Kita,
K. Kyuno
, A. Toriumi
研究成果
:
Article
›
査読
147
被引用数 (Scopus)
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Structural and electrical properties of HfLaO
x
films for an amorphous high-k gate insulator」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Physics & Astronomy
insulators
100%
electrical properties
99%
amorphous materials
79%
electric potential
73%
metal oxide semiconductors
69%
capacitors
59%
film thickness
55%
capacitance
54%
hysteresis
52%
crystallization
52%
degradation
51%
permittivity
47%
causes
41%
curves
37%
thin films
34%
temperature
20%