Surface defects and bulk defect migration produced by ion bombardment of Si(001)

K. Kyuno, David G. Cahill, R. S. Averback, J. Tarus, K. Nordlund

研究成果: Article › 査読

33 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Surface defects and bulk defect migration produced by ion bombardment of Si(001)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy