本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 1-9 |
ジャーナル | Shibaura Institute of Technology |
巻 | 50 |
出版ステータス | Published - 2006 9月 30 |
Two-dimensional analysis of slow current transients and current collapse in GaN FETs with a semi-insulating buffer layer
K.Horio K.Horio, H.Takayanagi H.Takayanagi, H.Nakano H.Nakano, K.Yonemoto K.Yonemoto, Kazushige Horio
研究成果: Article › 査読