Two-Dimensional Analysis of Substrate-Trap Effects on Turn-on Characteristics in GaAs MESFET`s

K.Horio K.Horio, A.Wakabayashi A.Wakabayashi, T.Yamada T.Yamada, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)617-624
ジャーナルIEEE Trans. Electron Devices
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出版ステータスPublished - 2000 3月 1

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