本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 617-624 |
ジャーナル | IEEE Trans. Electron Devices |
巻 | 47 |
出版ステータス | Published - 2000 3月 1 |
Two-Dimensional Analysis of Substrate-Trap Effects on Turn-on Characteristics in GaAs MESFET`s
K.Horio K.Horio, A.Wakabayashi A.Wakabayashi, T.Yamada T.Yamada, Kazushige Horio
研究成果: Article › 査読
28
被引用数
(Scopus)