本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 339-342 |
ジャーナル | Institute of Physics Conference Series |
巻 | Vol.166 |
出版ステータス | Published - 2000 4月 1 |
Two-Dimensional Simulation of Gate-Lag Phenomena in GaAs MESFETs and AlGaAs / GaAs HEMTS
K.Horio K.Horio, A.Wakabayashi A.Wakabayashi, N.Kurosawa N.Kurosawa, Kazushige Horio
研究成果: Article › 査読